Loại kết cấu theo chức năng và/hoặc theo các phần bên trong | Các ảnh hưởng của sét |
Nhà ở | Đánh thủng cách điện các trang bị điện, cháy và thiệt hại vật liệu Thiệt hại thường chỉ giới hạn ở các kết cấu tiếp xúc với điểm sét đánh hoặc với đường dẫn dòng điện sét Hỏng hóc các thiết bị và hệ thống điện và điện tử được lắp đặt (ví dụ như TV, máy tính, modem, điện thoại, v.v...) |
Tòa nhà trong trang trại | Rủi ro sơ cấp là cháy và điện áp bước nguy hiểm cũng như thiệt hại vật chất. Rủi ro thứ cấp do mất điện, và nguy hiểm đến sự sống của gia súc do hỏng điều khiển điện tử cho các hệ thống thông gió và thực phẩm, v.v... |
Nhà hát Khách sạn Trường học Cửa hàng Khu thể thao |
Thiệt hại cho các công trình điện (ví dụ điện chiếu sáng) nhiều khả năng xảy ra hoảng loạn Hỏng hệ thống báo cháy dẫn đến chậm trễ các biện pháp chữa cháy |
Ngân hàng Công ty bảo hiểm Công ty thương mại, v.v... |
Như trên, cộng thêm các vấn đề do mất thông tin liên lạc, hỏng máy tính và tổn thất dữ liệu |
Bệnh viện Viện dưỡng lão Nhà tù |
Như trên, cộng thêm các vấn đề về con người trong khu chăm sóc chuyên sâu, và những khó khăn của việc giải cứu người bất động |
Công nghiệp | Các ảnh hưởng bổ sung tùy thuộc vào các phần bên trong của các nhà máy, phạm vi thiệt hại từ nhỏ đến mức không thể chấp nhận và ngừng sản xuất |
Bảo tàng và các vị trí khảo cổ Nhà thờ |
Tổn thất di sản văn hóa không thể thay thế |
Viễn thông Nhà máy điện |
Tổn thất không thể chấp nhận của các dịch vụ cho công cộng |
Nhà máy sản xuất pháo hoa Xưởng đạn dược |
Hậu quả cháy, nổ đối với nhà máy và môi trường xung quanh nó |
Nhà máy hóa chất Nhà máy lọc dầu Nhà máy hạt nhân Các phòng thí nghiệm và nhà máy sinh hóa |
Cháy và hoạt động sai của các nhà máy có những hậu quả có hại cho môi trường địa phương và toàn cầu |
Điểm sét đánh | Nguồn gây thiệt hại | Kiểu thiệt hại | Kiểu tổn thất | |
Vào kết cấu | S1 | D1 D2 D3 |
L1, L4a L1, L2, L3, L4 L1b, L2, L4 |
|
Gần kết cấu | S2 | D3 | L1b , L2, L4 | |
Vào đường dây nối tới kết cấu | S3 | D1 D2 D3 |
L1, L4a L1, L2, L3, L4 L1b, L2, L4 |
|
Gần đường dây nối tới kết cấu | S4 | D3 | L1b , L2, L4 |
|
a Chỉ đối với các tài sản ở nơi mà động vật có thể bị mất. b Chỉ đối với các kết cấu có rủi ro nổ và đối với các bệnh viện hoặc các kết cấu khác mà việc hỏng hệ thống bên trong gây nguy hiểm ngay tới sự sống của con người. |
Xung dương đầu tiên | LPL | |||||
Các tham số dòng điện | Ký hiệu | Đơn vị | I | II | III | IV |
Dòng điện đỉnh | I | kA | 200 | 150 | 100 | |
Điện tích xung | QSHORT | C | 100 | 75 | 50 | |
Năng lượng riêng | W/R | MJ/W | 10 | 5,6 | 2,5 | |
Các tham số thời gian | T1/T2 | ms/ms | 10/350 | |||
Xung âm đầu tiên a | LPL | |||||
Các tham số dòng điện | Ký hiệu | Đơn vị | I | II | III | |
Dòng điện đỉnh | I | kA | 100 | 75 | 50 | |
Độ dốc trung bình | di/dt | kA/mS | 100 | 75 | 50 | |
Các tham số thời gian | T1/T2 | ms/ms | 1/200 | |||
Xung tiếp theo | LPL | |||||
Các tham số dòng điện | Ký hiệu | Đơn vị | I | II | III | IV |
Dòng điện đỉnh | I | kA | 50 | 37,5 | 25 | |
Độ dốc trung bình | di/dt | kA/ms | 200 | 150 | 100 | |
Các tham số thời gian | T1/T2 | ms/ms | 0,25/100 | |||
Cú sét dài | LPL | |||||
Các tham số dòng điện | Ký hiệu | Đơn vị | I | II | III | IV |
Điện tích cú sét dài | QLONG | C | 200 | 150 | 100 | |
Tham số thời gian | TLONG | s | 0,5 | |||
Sét | LPL | |||||
Các tham số dòng điện | Ký hiệu | Đơn vị | I | II | III | IV |
Điện tích sét | QFLASH | C | 300 | 225 | 150 | |
a Việc sử dụng hình dạng dòng điện này chỉ liên quan đến các tính toán mà không phải để thử nghiệm. |
Tiêu chí chặn | LPL | |||||
Các tham số dòng điện | Ký hiệu | Đơn vị | I | II | III | IV |
Dòng điện đỉnh tối đa | I | kA | 3 | 5 | 10 | 16 |
Bán kính quả cầu lăn | r | m | 20 | 30 | 45 | 60 |
Xác suất để các tham số dòng điện sét | LPL | |||
I | II | III | IV | |
- nhỏ hơn các giá trị tối đa xác định trong Bảng 3 | 0,99 | 0,98 | 0,95 | 0,95 |
- lớn hơn các giá trị tối thiểu xác định trong Bảng 4 | 0,99 | 0,97 | 0,91 | 0,84 |
CHÚ DẪN | ||
1 kết cấu | S1 | sét đánh vào kết cấu |
2 hệ thống đầu thu sét | S2 | sét đánh gần kết cấu |
3 hệ thống dẫn sét | S3 | sét đánh vào đường dây được nối tới kết cấu |
4 hệ thống đầu tiếp đất | S4 | sét đánh gần đường dây được nối tới kết cấu |
5 các đường dây vào | r | bán kính quả cầu lăn |
s | khoảng cách ly chống tia lửa điện nguy hiểm |
1 kết cấu (vỏ bọc của LPZ 1) | S1 | sét đánh vào kết cấu |
2 hệ thống đầu thu sét | S2 | sét đánh gần kết cấu |
3 hệ thống dẫn sét | S3 | sét đánh vào đường dây được nối tới kết cấu |
4 hệ thống đầu tiếp đất | S4 | sét đánh gần đường dây được nối tới kết cấu |
5 phòng (vỏ bọc của LPZ 2) | r | bán kính quả cầu lăn |
6 các đường dây được nối tới kết cấu | ds | khoảng an toàn ngăn từ trường có độ lớn quá cao |
Ñ cao độ mặt đất | ||
○ liên kết đẳng thế chống sét bằng SPD |
Tham số | Giá trị cố định cho LPL I | Các giá trị | Loại cú sét | Đường ở Hình A.5 |
||
95% | 50% | 5% | ||||
L (kA) | 4a | 20a | 90 | Ngắn mang điện âm đầu tiênb | 1A+1B | |
50 | 4,9 | 11,8 | 28,6 | Ngắn mang điện âm tiếp theob | 2 | |
200 | 4,6 | 35 | 250 | Ngắn mang điện dương đầu tiên (đơn) | 3 | |
QFLASH (C) | 1,3 | 7,5 | 40 | Phóng sét mang điện âm | 4 | |
300 | 20 | 80 | 350 | Phóng sét mang điện dương | 5 | |
1,1 | 4,5 | 20 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | 6 | ||
QSHORT (C) | 0,22 | 0,95 | 4 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | 7 | |
100 | 2 | 16 | 150 | Ngắn mang điện dương đầu tiên (đơn) | 8 | |
W/R (kJ/W) | 6 | 55 | 550 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | 9 | |
0,55 | 6 | 52 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | 10 | ||
10000 | 25 | 650 | 15000 | Ngắn mang điện dương đầu tiên | 11 | |
di/dtmax (kA/ms) |
9,1 | 24,3 | 65 | Ngắn mang điện âm đầu tiênb | 12 | |
9,9 | 39,9 | 161,5 | Ngắn mang điện âm tiếp theob | 13 | ||
20 | 0,2 | 2,4 | 32 | Ngắn mang điện dương đầu tiên | 14 | |
di/dt30%/90% (kA/ms) |
200 | 4,1 | 20,1 | 98,5 | Ngắn mang điện âm tiếp theob | 15 |
QLONG (C) | 200 | Dài | ||||
TLONG (s) | 0,5 | Dài | ||||
Thời gian sườn trước (ms) | 1,8 | 5,5 | 18 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | ||
0,22 | 1,1 | 4,5 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | |||
3,5 | 22 | 200 | Ngắn mang điện dương đầu tiên (đơn) | |||
Thời gian cú sét (ms) | 30 | 75 | 200 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | ||
6,5 | 32 | 140 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | |||
25 | 230 | 2000 | Ngắn mang điện dương đầu tiên (đơn) | |||
Khoảng thời gian (ms) | 7 | 33 | 150 | Nhiều lần đánh mang điện âm | ||
Tổng thời gian sét đánh (ms) | 0,15 | 13 | 1100 | Sét đánh mang điện âm (tất cả) | ||
31 | 180 | 900 | Sét đánh mang điện âm (không có đánh đơn) | |||
14 | 85 | 500 | Sét đánh mang điện dương | |||
a Các giá trị I = 4 kA và I = 20 kA tương ứng với lần lượt các xác suất 98 % và 80 %. | ||||||
b Các tham số và các giá trị liên quan được nêu trong Electra No. 69. |
Tham số | Trung bình m | Độ phân tán* slog | Loại cú sét | Đường ở Hình A.5 |
L (kA) | (61,1) | 0,576 | Ngắn mang điện âm đầu tiên (80%)b | 1A |
33,3 | 0,263 | Ngắn mang điện âm đầu tiên (80%)b | 1B | |
11,8 | 0,233 | Ngắn mang điện âm tiếp theob | 2 | |
33,9 | 0,527 | Ngắn mang điện dương đầu tiên (đơn) | 3 | |
QFLASH (C) | 7,21 | 0,452 | Phóng sét mang điện âm | 4 |
83,7 | 0,378 | Phóng sét mang điện dương | 5 | |
QSHORT (C) | 4,69 | 0,383 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | 6 |
0,938 | 0.383 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | 7 | |
17,3 | 0,570 | Ngắn mang điện dương đầu tiên (đơn) | 8 | |
W/R (kJ/W) | 57,4 | 0,596 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | 9 |
5,35 | 0,600 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | 10 | |
612 | 0,844 | Ngắn mang điện dương đầu tiên | 11 | |
di/dtmax (kA/ms) |
24,3 | 0,260 | Ngắn mang điện âm đầu tiênb | 12 |
40,0 | 0,369 | Ngắn mang điện âm tiếp theob | 13 | |
2,53 | 0,670 | Ngắn mang điện dương đầu tiên | 14 | |
di/dt30%/90% (kA/ms) |
20,1 | 0,420 | Ngắn mang điện âm tiếp theob | 15 |
QLONG (C) | 200 | Dài | ||
TLONG (s) | 0,5 | Dài | ||
Thời gian sườn trước (ms) | 5,69 | 0,304 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | |
0,995 | 0,398 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | ||
26,5 | 0,534 | Ngắn mang diện dương đầu tiên (đơn) | ||
Thời gian cú sét (ms) | 77,5 | 0,250 | Ngắn mang điện âm đầu tiên | |
30,2 | 0,405 | Ngắn mang điện âm tiếp theo | ||
224 | 0,578 | Ngắn mang điện dương đầu tiên (đơn) | ||
Khoảng thời gian (ms) | 32,4 | 0,405 | Nhiều lần đánh mang điện âm | |
Tổng thời gian sét đánh (ms) | 12,8 | 1,175 | Sét đánh mang diện âm (tất cả) | |
167 | 0,445 | Sét đánh mang điện âm (không có đánh đơn) | ||
83,7 | 0,472 | Sét đánh mang điện dương | ||
a slog = log(X16%) - log(X50%), trong đó X là giá trị tham số. b Các tham số và các giá trị liên quan được nêu trong Electra No. 69. |
I (kA) |
P |
0 | 1 |
3 | 0,99 |
5 | 0,95 |
10 | 0,9 |
20 | 0,8 |
30 | 0,6 |
35 | 0,5 |
40 | 0,4 |
50 | 0,3 |
60 | 0,2 |
80 | 0,1 |
100 | 0,05 |
150 | 0,02 |
200 | 0,01 |
300 | 0,005 |
400 | 0,002 |
600 | 0,001 |
Các tham số | Xung mang điện dương đầu tiên | Xung mang điện âm đầu tiên | Xung mang điện âm tiếp theo | ||||||
LPL | LPL | LPL | |||||||
I | II | lll-IV | I | II | lll-IV | I | II | lll-IV | |
l(kA) | 200 | 150 | 100 | 100 | 75 | 50 | 50 | 37,5 | 25 |
K | 0,93 | 0,93 | 0,93 | 0,986 | 0,986 | 0,986 | 0,993 | 0,993 | 0,993 |
T1(ms) | 19 | 19 | 19 | 1,82 | 1,82 | 1,82 | 0,454 | 0,454 | 0,454 |
T2(ms) | 485 | 485 | 485 | 285 | 285 | 285 | 143 | 143 | 143 |
Nếu một kết cấu bị sét đánh, dòng điện sét được phân bố trong kết cấu. Khi thử nghiệm riêng các thành phần của biện pháp bảo vệ, điều này phải được tính toán bằng cách chọn các tham số thử nghiệm phù hợp với từng thành phần. Để kết thúc thử nghiệm này, phải thực hiện một phân tích hệ thống.
C.2. Mô phỏng năng lượng riêng của xung mang điện dương đầu tiên và điện tích của cú sét dài
Các tham số thử nghiệm được xác định trong Bảng C.1 và C.2 và một ví dụ máy phát thử nghiệm chỉ trong Hình C.1. Máy phát này có thể được sử dụng để mô phỏng năng lượng riêng của xung dương đầu tiên kết hợp với điện tích của cú sét dài.
Các thử nghiệm có thể được sử dụng để đánh giá độ toàn vẹn về cơ, độc lập với các hiệu ứng đốt nóng và nóng chảy bất lợi.
Các tham số thử nghiệm liên quan đến việc mô phỏng xung mang điện dương đầu tiên (dòng điện đỉnh I, năng lượng riêng W/R, và điện tích QSHORT) được đưa ra ở Bảng C.1. Các tham số này thu được từ cùng một xung. Việc thu nhận này có thể đạt được bằng một dòng điện suy giảm xấp xỉ theo hàm mũ với T2 cỡ 350 ms.
Các tham số thử nghiệm liên quan đến việc mô phỏng cú sét dài (điện tích QLONG và độ rộng xung TLONG ) được đưa ra ở Bảng C.2.
Tùy thuộc vào phần tử thử nghiệm và các cơ chế thiệt hại dự kiến, các thử nghiệm của xung mang điện dương đầu tiên hoặc cú sét dài có thể được áp dụng riêng hoặc theo một thử nghiệm kết hợp, trong đó, cú sét dài ngay sau xung đầu tiên. Các thử nghiệm về nóng chảy hồ quang được thực hiện sử dụng cả hai xung phân cực.
CHÚ THÍCH: Các xung mang điện âm đầu tiên không được sử dụng cho các mục đích của thử nghiệm
Các tham số thử nghiệm | Mức bảo vệ LPL | Dung sai | |||
I | II | III - IV | % | ||
Dòng điện đỉnh I | (kA) | 200 | 150 | 100 | ± 10 |
Điện tích QSHORT | (C) | 100 | 75 | 50 | ± 20 |
Năng lượng riêng W/R | (MJ/W) | 10 | 5,6 | 2,5 | ± 35 |
Các tham số thử nghiệm | Mức bảo vệ LPL | Dung sai % |
||
I | II | III - IV | ||
Điện tích QLONG (C) | 200 | 150 | 100 | ± 20 |
Khoảng thời gian TLONG (s) | 0,5 | 0,5 | 0,5 | ± 10 |
Độ dốc của dòng điện xác định các điện áp được cảm ứng từ trong các mạch vòng đặt gần các dây dẫn mang dòng điện sét.
Độ dốc của một xung dòng điện được định ngĩa là độ tăng cũa dòng điện Delta"i" khi thời gian tăng Dt (Hình C.2). Các tham số thử nghiệm liên quan đến mô phỏng độ dốc dòng điện này được đưa ra trong Bảng C.3. Các máy phát điện thử nghiệm ví dụ được trình bày ở Hình C.3 và C.4, (chúng có thể được sử dụng để mô phỏng độ dốc sườn trước của một đòng điện sét kết hợp với sét đánh trực tiếp). Mô phỏng có thể được thực hiện cho một xung dương đầu tiên và xung âm tiếp theo.
CHÚ THÍCH: Mô phỏng này bao gồm độ dốc sườn trước của các xung dòng điện. Sườn sau của dòng điện không ảnh hưởng đến kiểu mô phỏng này.
Mô phỏng theo điều C.3 có thể được áp dụng độc lập hoặc kết hợp với các mô phỏng theo Điều C.2.
Để biết thêm thông tin về các tham số thử nghiệm mô phỏng những hiệu ứng của sét lên các thành phần của hệ thống LPS, xem Phụ lục D.
Các tham số thử nghiệm | Mức bảo vệ LPL | Dung sai % |
||||
l | II | III - IV | ||||
Xung mang điện đương đầu tiên | ||||||
Di (kA) | 200 | 150 | 100 | ± 20 | ||
Dt (ms) | 10 | 10 | 10 | ± 10 | ||
Xung mang điện âm tiếp theo | ||||||
Di (kA) | 50 | 37,5 | 25 | ± 10 | ||
Dt (ms) | 0,25 | 0,25 | 0,25 | ± 20 |
Phụ lục D đưa ra các tham số cơ bản mà có thể được sử dụng trong phòng thí nghiệm để mô phỏng những ảnh hưởng của sét. Phụ lục này đề cập đến tất cả các thành phần của một hệ thống LPS được đưa ra cho toàn bộ hoặc phần chủ yếu của dòng điện sét và có thể được sử dụng kết hợp với các tiêu chuẩn quy định cụ thể các yêu cầu và các thử nghiệm cho mỗi thành phần cụ thể.
CHÚ THÍCH: Các tham số liên quan đến các khía cạnh hệ thống (như sự phối hợp của các thiết bị đột biến) không được xem xét trong phụ lục này.
D.2. Các tham số dòng điện liên quan đến điểm sét đánh
Các tham số dòng điện sét đóng một vai trò trong độ nhất quán vật lý của một hệ thống LPS, nói chung là dòng điện đỉnh I, điện tích Q, năng lượng riêng W/R, khoảng thời gian T và độ dốc trung bình của dòng điện di/dt. Mỗi tham số có xu hướng tiến tới một cơ chế hỏng hóc khác nhau, như được phân tích chi tiết bên dưới. Các tham số dòng điện được xem xét cho các thử nghiệm là sự kết hợp các giá trị này, được lựa chọn để biểu diễn trong phòng thí nghiệm cơ chế hỏng hóc thực sự của bộ phận trong hệ thống LPS đang được thử nghiệm. Các tiêu chí lựa chọn các số lượng nổi bật được đưa ra ở Điều D.5.
Bảng D.1 ghi các giá trị tối đa I, Q, W/R, T và di/dt được xem xét cho các thử nghiệm, như một hàm số của mức bảo vệ được yêu cầu.
Bảng D.1 - Tóm tắt các tham số đe dọa sét được xem xét khi tính toán các giá trị thử nghiệm cho các thành phần hệ thống LPS khác nhau và cho các mức bảo vệ LPL khác nhau
Thành phần |
Vấn đề chính |
Các tham số đe dọa của sét |
Chú thích |
||||
Đầu thu sét |
Ăn mòn tại các mối nối (ví dụ tấm kim loại mỏng) |
Mức |
QLONG |
T |
|
|
|
I |
200 |
<1s (áp dụng QLONG trong một xung ngắn đơn) |
|
|
|||
Đầu thu sét và bộ dẫn điện xuống |
Đốt nóng thuần trở |
Mức |
W/R |
T |
|
|
Định kích thước theo TCVN 9888- 3 (IEC 62305-3) trả về thử nghiệm không cần thiết |
I |
10000 |
Áp dụng W/R theo cấu hình bảo toàn nhiệt |
|
|
|||
Hiệu ứng cơ học |
Mức |
I |
W/R |
|
|
|
|
I |
200 |
10000 |
|
|
|
||
Các thành phần kết nối |
Hiệu ứng kết hợp (nhiệt, cơ và hồ quang) |
Mức |
I |
W/R |
T |
|
|
I |
200 |
10000 |
<2ms (áp dụng I và W/R trong một xung đơn) |
|
|
||
Các đầu nối đất |
Ăn mòn tại các mối nối |
Mức |
QLONG |
T |
|
|
Định kích thước thường được xác định theo hiệu ứng hóa học/cơ khí (như ăn mòn) |
I |
200 |
<1s (áp dụng QLONG trong một xung ngắn đơn) |
|
|
|||
Các thiết bị SPD có các khe đánh lửa |
Hiệu ứng kết hợp (nhiệt, cơ và hồ quang) |
Mức |
I |
QSHORT |
W/R |
di/dt |
Áp dụng I, QSHORT và W/R ở xung đơn (có T<2ms); áp dụng Di/Dt ở xung tách rời |
I |
200 |
100 |
10000 |
200 |
|||
Các thiết bị SPD có các khối điện trở oxit kim loại |
Hiệu ứng năng lượng (quá tải) |
Mức |
QSHORT |
|
|
|
|
I |
100 |
|
|
|
|||
Hiệu ứng điện môi (phóng lửa hồ quang/ rạn nứt) |
Mức |
I |
T |
|
|
||
I |
200 |
<2ms (áp dụng I trong một xung đơn) |
|
|
D.3. Chia dòng
Các tham số được đưa ra trong Bảng D.1 có liên quan đến dòng điện sét tại điểm sét đánh. Trong thực tế, dòng dẫn xuống đất qua nhiều đường dẫn, theo một số bộ dẫn điện xuống và các bộ dẫn điện tự nhiên thường có trong một hệ thống LPS bên ngoài. Ngoài ra, các đường dây khác thường đi vào kết cấu cần bảo vệ (các ống nước và khí đốt, các dây điện và viễn thông, v.v...). Để xác định các tham số dòng điện thực dẫn trong các thành phần cụ thể của một hệ thống LPS, phải tính đến việc chia dòng. Tốt nhất là phải đánh giá biên độ và hình dáng dòng điện đi qua mỗi thành phần tại một vị trí cụ thể trong hệ thống LPS. Khi không thể đánh giá riêng, có thể đánh giá các tham số dòng bằng các quy trình sau.
Để đánh giá việc chia dòng trong hệ thống LPS bên ngoài, có thể áp dụng hệ số cấu hình kc (xem Phụ lục C của TCVN 9888-3:2013 (IEC 62305-3:2010)). Hệ số này cung cấp một ước lượng chia dòng điện sét theo các bộ dẫn điện xuống của hệ thống LPS bên ngoài trong các trường hợp xấu nhất.
Để đánh giá việc chia dòng khi có các thành phần dẫn điện bên ngoài và các đường dây điện và viễn thông được nối tới kết cấu cần bảo vệ, có thể áp dụng các giá trị ke và k’e xấp xỉ được xét trong Phụ lục E.
Phép xấp xỉ được mô tả ở trên có thể áp dụng cho đánh giá giá trị đỉnh của dòng điện sét đang dẫn trong một đường dẫn tới đất cụ thể.
Việc tính toán các tham số dòng khác được thực hiện như sau :
Lp = k x l (D.1)
Qp = k x Q (D.2)
(W/R)p = k2 x (W/R) (D.3)
(D.4)
trong đó
Xp là giá trị số lượng được xét (dòng đỉnh IP, điện tích Qp, năng lượng riêng (W/R)p, độ dốc dòng điện (di/dt)p) liên quan đến một đường dẫn tới đất cụ thể “p”;
x là giá trị số lượng được xét (dòng đỉnh I, điện tích Q, năng lượng riêng (W/R), độ dốc dòng điện (di/dt)) liên quan đến tổng dòng điện sét;
k là hệ số chia dòng:
- kc cho hệ thống LPS bên ngoài (xem Phụ lục C của TCVN 9888-3:2013 (IEC 62305-3:2010));
- ke, k’e khi có các phần dẫn điện bên ngoài và các đường dây điện và viễn thông đi vào kết cấu cần bảo vệ (xem Phụ lục E).
D.4. Hiệu ứng của dòng điện sét gây thiệt hại có thể
D.4.1. Hiệu ứng nhiệt
Hiệu ứng nhiệt gắn với dòng điện sét có liên quan đến nhiệt điện trở bị gây ra bởi sự lưu chuyển của dòng điện dẫn qua điện trở của dây dẫn hoặc đi vào hệ thống LPS. Hiệu ứng nhiệt cũng có liên quan đến nhiệt lượng được phát ra ở nguồn hồ quang điện tại điểm ghép nối và trong tất cả các bộ phận được cách ly của một hệ thống LPS liên quan đến việc khai triển hồ quang (ví dụ các bộ phóng điện).
D.4.1.1. Nhiệt điện trở
Nhiệt điện trở xảy ra ở bất kỳ thành phần nào của một hệ thống LPS mang phần lớn dòng điện sét. Tiết diện tối thiểu của dây dẫn phải đủ lớn để ngăn chặn quá nhiệt cho dây dẫn theo mức mà có nguy cơ cháy cho môi trường xung quanh. Mặc dù các phương diện nhiệt được thảo luận trong D.4.1, tiêu chí về độ bền và độ chịu đựng cơ học phải được xem xét cho các bộ phận tiếp xúc với điều kiện khí quyển và/hoặc ăn mòn. Đôi khi cần đánh giá nhiệt lượng dây dẫn do dòng điện sét dẫn qua khi có thể phát sinh các vấn đề rủi ro tổn thương cá nhân và các thiệt hại cháy hoặc nổ.
Chỉ dẫn được đưa ra dưới đây để đánh giá độ tăng nhiệt của dây dẫn mang dòng điện sét.
Một cách tiếp cận phân tích được trình bày như sau:
Công suất tiêu tán tức thời theo nhiệt năng trong một dây dẫn do dòng điện được biểu diễn:
P(t) = i2 (t) x R (D.5)
Do đó, nhiệt năng tạo ra bởi cả xung sét là điện trở thuần của dây dẫn sét suốt thành phần hệ thống LPS được xét, nhân với năng lượng riêng của xung. Nhiệt năng này được biểu diễn theo đơn vị jun (J) hoặc oát-giây (W x s).
W = R x ò i2 (t) x dt (D.6)
Trong một lần phóng sét, các giai đoạn sét đánh có năng lượng riêng cao độ rộng xung rất ngắn đối với bất kỳ nhiệt lượng phát ra trong kết cấu được phân tán đáng kể. Do đó, hiện tượng được xem như là đoạn nhiệt.
Nhiệt độ của các dây dẫn của hệ thống LPS có thể được đánh giá như sau:
q - q0 = D.7
Các giá trị đặc trưng của các tham số vật lý được nêu trong công thức (D.7), cho các vật liệu khác nhau được sử dụng trong hệ thống
LPS ghi trong Bảng D.2, trong đó:
q - q0 là độ tăng nhiệt của các dây dẫn (K);
a là hệ số nhiệt của điện trở (1/K);
W/R là năng lượng riêng của xung dòng điện (J/W);
ro là điện trở thuần riêng của dây dẫn tại nhiệt độ môi trường (Wm);
q là tiết diện của dây dẫn (m2);
g là mật độ vật chất (kg/m3);
Cw là nhiệt dung riêng (J/kgK);
Cs là nhiệt ẩn nóng chảy (J/kg);
qs là nhiệt độ nóng chảy (°C).
Bảng D.2 - Đặc trưng vật lý của các vật liệu điển hình sử dụng trong các thành phần LPS
Đại lượng |
Vật liệu |
|||
Nhôm |
Thép non |
Đồng |
Thép không gỉ a |
|
ro(Wm) |
29 x 10-9 |
120 x 10-9 |
17,8 x 10-9 |
700 x 10-9 |
a(1/K) |
4,0 x 10-3 |
6,5 x 10-3 |
3,92 x 10-3 |
0,8 x 10-3 |
g (kg/m3) |
2700 |
7700 |
8920 |
8000 |
qs(°C) |
658 |
1530 |
1080 |
1500 |
Cs (J/kg) |
397 x 103 |
272 x 103 |
209 x 103 |
- |
Cw (J/kgK) |
908 |
469 |
385 |
500 |
a Auxtenit không từ tính. |
Theo ví dụ về ứng dụng phương trình này, Bảng D.3 nêu độ tăng nhiệt của dây dẫn làm bằng các vật liệu khác nhau, theo hàm số của W/R và của tiết diện dây dẫn.
Bảng D.3 - Độ tăng nhiệt cho dây dẫn có tiết diện khác nhau là hàm của W/R
Tiết diện |
Vật liệu |
|||||||||||
Nhôm |
Thép non |
Đồng |
Thép không gỉa |
|||||||||
W/R |
W/R |
W/R |
W/R |
|||||||||
2,5 |
5,6 |
10 |
2,5 |
5,6 |
10 |
2,5 |
5,6 |
10 |
2,5 |
5,6 |
10 |
|
4 |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
10 |
564 |
- |
- |
- |
- |
- |
169 |
542 |
- |
- |
- |
- |
16 |
146 |
454 |
- |
1120 |
- |
- |
56 |
143 |
309 |
- |
- |
- |
25 |
52 |
132 |
283 |
211 |
913 |
- |
22 |
51 |
98 |
940 |
- |
- |
50 |
12 |
28 |
52 |
37 |
96 |
211 |
5 |
12 |
22 |
190 |
460 |
940 |
100 |
3 |
7 |
12 |
9 |
20 |
37 |
1 |
3 |
5 |
45 |
100 |
190 |
a Auxtenit không từ tính. |
Cú sét đánh điển hình được đặc trưng bởi một cú sét thời gian ngắn (thời gian tới nửa giá trị cỡ vài 100 ms) và giá trị dòng đỉnh cao.
Trong những trường hợp này, hiệu ứng bề mặt cũng cần được xem xét. Tuy nhiên, trong hầu hết các trường hợp thực tế gắn với các thành phần của hệ thống LPS, các đặc trưng vật liệu (độ thấm tự động của dây dẫn hệ thống LPS) và các kết cấu hình học (tiết diện của dây dẫn hệ thống LPS) giảm sự góp phần của hiệu ứng bề mặt làm tăng nhiệt độ dây dẫn ở mức không đáng kể.
Thành phần của sét phù hợp nhất với cơ chế nhiệt này chính là cú sét trả về ban đầu.
D.4.1.2. Thiệt hại về nhiệt ở điểm nối
Thiệt hại về nhiệt ở điểm nối có thể được quan sát trên tất cả các thành phần của một hệ thống LPS trên đó diễn ra sự phóng hồ quang, nghĩa là tại các hệ thống đầu thu sét, các bộ phóng điện, v.v...
Nóng chảy và ăn mòn vật liệu có thể xảy ra tại các điểm nối. Trong thực tế, ở vùng nguồn hồ quang có một đầu vào nhiệt điện lớn từ chính nguồn hồ quang, cũng như độ tập trung nhiệt thuần trở do mật độ dòng điện cao. Hầu hết nhiệt năng được phát ra tại hoặc rất gần với bề mặt kim loại. Nhiệt lượng sinh ra tức thời tại vùng nguồn vượt quá ngưỡng mà kim loại có thể hấp thụ bằng cách dẫn nhiệt và giá trị vượt quá bị bức xạ hoặc tiêu tán khi tan chảy hoặc bốc hơi kim loại. Mức độ nghiêm trọng của quá trình liên quan với biên độ của dòng điện và độ rộng xung.
D.4.1.2.1. Qui định chung
Một số mô hình lý thuyết đã được phát triển để tính toán hiệu ứng nhiệt trên bề mặt kim loại tại các điểm nối của một luồng sét. Với mục đích đơn giản, tiêu chuẩn này sẽ chỉ nêu mô hình sụt điện áp của anot-hoặc-catot. Việc áp dụng mô hình này đặc biệt hiệu quả với các bề mặt kim loại mỏng. Trong mọi trường hợp, mô hình sẽ cho các kết quả bảo toàn khi nó được giả định rằng tất cả các năng lượng bắn vào điểm nối sét được sử dụng để làm nóng chảy hoặc bốc hơi vật liệu dây dẫn, bỏ qua sự khuếch tán nhiệt trong kim loại. Các mô hình khác đề cập sự phụ thuộc của thiệt hại điểm nối sét theo độ rộng của xung dòng điện.
D.4.1.2.2. Mô hình sụt điện áp anot-hoặc-catot
Đầu vào năng lượng W ở nguồn hồ quang được giả định là do sụt điện áp anot/catot Ua,c nhân với điện tích Q của dòng điện sét:
W = (D.8)
Khi Ua,c là hằng số ổn định trong khoảng dòng điện được xét ở đây, điện tích của dòng điện sét (Q) là thành phần chủ yếu để chuyển đổi năng lượng trong nguồn hồ quang.
Sụt điện áp anot - hoặc - catot Ua,c có giá trị cỡ vài chục vôn.
Một cách tiếp cận đơn giản giả định rằng tất cả các năng lượng được phóng tại nguồn hồ quang chỉ được sử dụng để làm nóng chảy. Công thức (D.9) sử dụng giả định này nhưng dẫn đến một ước lượng quá lớn về thể tích bị nóng chảy.
(D.9)
Trong đó:
V là thể tích kim loại bị nóng chảy (m3);
Ua.c là sụt điện áp anot-hoặc-catot (giả thiết là hằng số) (V);
Q là điện tích của dòng điện sét (C);
g là khối lượng riêng của vật liệu (kg/m3);
Cw là nhiệt dung riêng (J/kgK);
qs là nhiệt độ nóng chảy (°C);
qU là nhiệt độ môi trường xung quanh (°C);
Cs là nhiệt ẩn nóng chảy (J/kg).
Các giá trị đặc trưng của các tham số vật lý được đưa ra trong công thức này, đối với các vật liệu khác nhau sử dụng trong một hệ thống LPS, được ghi trong Bảng D.2.
Về cơ bản, điện tích được xét là tổng điện tích của cú sét phản hồi và dòng điện sét liên tục. Thí nghiệm đã cho thấy rằng các hiệu ứng của điện tích cú sét phản hồi ít quan trọng khi so sánh với các hiệu ứng của dòng liên tục.
D.4.2. Hiệu ứng cơ học
Hiệu ứng cơ học gây ra bởi dòng điện sét phụ thuộc vào biên độ và độ rộng xung của dòng điện cũng như vào các đặc trưng đàn hồi của kết cấu cơ học bị ảnh hưởng. Hiệu ứng cơ học cũng phụ thuộc vào lực ma sát tác động giữa các bộ phận của hệ thống LPS khi tiếp xúc với bộ phận có liên quan khác.
D.4.2.1. Tương tác từ
Lực từ xuất hiện giữa hai dây dẫn mang dòng hoặc, khi chỉ có một dây dẫn mang dòng nhưng nó có dạng có một góc hoặc có một vòng ghép.
Khi dòng điện dẫn qua một mạch, biên độ của lực điện động xuất hiện tại các vị trí khác nhau của mạch điện phụ thuộc vào cả biên độ của dòng điện sét và cấu hình hình học của mạch điện. Tuy nhiên, ảnh hưởng cơ học của các lực này không chỉ phụ thuộc vào biên độ của chúng mà còn về dạng chung của dòng điện, độ rộng xung của nó, cũng như vào cấu hình hình học của trang bị.
D.4.2.1.1. Lực điện động
Lực điện động khai triển từ một dòng điện I, dẫn trong một dây dẫn có các đoạn dài song song dài I và khoảng cách d (mạch vòng dài và nhỏ), như thể hiện trong Hình D.1, có thể được tính toán xấp xỉ bằng cách sử dụng công thức sau đây:
(D.10)
Trong đó:
F(t) là lực điện động (N);
i là dòng điện (A);
mo là độ từ thẩm của không khí tự do (chân không) (4p X 10-7 H/m);
I là chiều dài của dây dẫn (m);
d là khoảng cách giữa các đoạn song song thẳng của dây dẫn (m)
Hình D.1 – Bố trí thông dụng của hai dây dẫn để tính lực điện động
Ví dụ, trong một hệ thống LPS đưa ra các dây dẫn có bố cục góc đối xứng, tạo thành một góc 90°, có một kẹp được đặt ở gần góc vuông như chỉ trên Hình D.2. Sơ đồ các ứng suất cho cấu hình này được nêu trong Hình D.3. Lực dọc theo trục trên dây dẫn ngang có xu hướng kéo dây dẫn ra khỏi kẹp. Giá trị số của lực kéo dọc theo dây dẫn ngang được thể hiện trong Hình D.4, xét giá trị dòng đỉnh là 100 kA và chiều dài dây dẫn thẳng đứng là 0,5 m.
Hình D.2 - Bố trí dây dẫn điển hình trong hệ thống LPS
Hình D.3 - Biểu đồ ứng suất lực F cho cấu hình của Hình D.2
CHÚ THÍCH: Giá trị dòng đỉnh là 100 kA và chiều dài của dây dẫn dọc là 0,5 m.
Hình D.4 - Lực kéo trên mỗi đơn vị chiều dài F’ dọc theo dây dẫn ngang của Hình D.2
D.4.2.1.2. Các hiệu ứng của lực điện động
Về biên độ của lực tác dụng, giá trị tức thời của lực điện động F(t) tỷ lệ thuận với bình phương dòng điện tức thời i2(t). Về khai triển ứng xuất trong kết cấu LPS cơ khí, biểu diễn bằng tích độ biến dạng đàn hồi d(t) và hằng số đàn hồi k của kết cấu LPS, cần xem xét hai hiệu ứng này. Tần suất cơ học tự nhiên (gắn với tính năng đàn hồi của kết cấu LPS) và biến dạng vĩnh viễn của kết cấu hệ thống LPS (gắn với tính năng dẻo của nó) là những tham số quan trọng nhất. Hơn nữa, trong nhiều trường hợp, các hiệu ứng của lực ma sát trong kết cấu cũng khá quan trọng.
Biên độ của các dao động trong kết cấu LPS đàn hồi, gây ra bởi một lực điện động khai triển từ dòng điện sét, có thể được đánh giá bằng phương trình vi phân bậc hai, hệ số chính là tỷ lệ giữa độ rộng xung dòng điện và chu kỳ dao động cơ học tự nhiên của kết cấu LPS. Điều kiện điển hình gặp trong các ứng dụng LPS gồm chu kỳ dao động tự nhiên của kết cấu dài hơn nhiều lực tác động (độ rộng xung dòng điện sét). Trong trường hợp này, ứng suất cơ học tối đa xuất hiện sau khi ngắt xung dòng điện sét và có giá trị đỉnh vẫn còn thấp hơn so với lực tác động, ở hầu hết các trường hợp, ứng suất cơ học tối đa có thể được bỏ qua.
Biến dạng dẻo xuất hiện khi ứng suất kéo vượt quá giới hạn đàn hồi của vật liệu. Nếu vật liệu hợp thành kết cấu LPS là mềm, như nhôm hay đồng tôi, thì các lực điện động có thể làm biến dạng các dây dẫn ở các góc và các vòng ghép. Do đó, thành phần hệ thống LPS cần được thiết kế để chịu được các lực này và cho thấy tính năng đàn hồi thiết yếu.
Tổng các ứng suất cơ học tác động tới kết cấu LPS phụ thuộc vào tích phân theo thời gian của lực tác động và do đó theo năng lượng riêng liên quan đến xung dòng điện. Nó cũng phụ thuộc vào hình dạng và độ rộng của xung dòng điện (so với chu kỳ dao động tự nhiên của kết cấu). Do đó, tất cả các tham số ảnh hưởng này phải được tính đến trong quá trình thử nghiệm.
D.4.2.2. Thiệt hại sóng âm sốc
Khi một dòng điện sét dẫn trong một hồ quang, một sóng xung sét được phát ra. Mức độ nghiêm trọng của cú sét phụ thuộc vào giá trị đỉnh dòng và tốc độ tăng của dòng điện.
Nhìn chung, thiệt hại do sóng âm xung sét là không đáng kể trên các bộ phận kim loại của hệ thống LPS nhưng có thể gây thiệt hại cho các thành phần xung quanh.
D.4.3. Các hiệu ứng kết hợp
Trong thực tế, cả hai hiệu ứng nhiệt và cơ học xảy ra đồng thời. Nếu nhiệt lượng vật liệu của các thành phần (cọc, kẹp, v.v...) là đủ để làm mềm các vật liệu, thì thiệt hại rất lớn có thể xảy ra. Trong trường hợp xấu nhất, dây dẫn có thể nổ nung chảy và gây thiệt hại đáng kể cho các kết cấu xung quanh. Nếu tiết diện của kim loại là đủ để xử lý an toàn tác động tổng thể, chỉ cần kiểm tra tính toàn vẹn cơ khí.
4.4. Đánh lửa
Đánh lửa thường chỉ quan trọng trong môi trường dễ cháy hoặc khi có mặt các vật liệu dễ cháy. Trong hầu hết các trường hợp thực tế, đánh lửa không quan trọng đối với các thành phần hệ thống LPS.
Hai loại đánh lửa khác nhau có thể xảy ra, là đánh lửa nhiệt và đánh lửa điện. Đánh lửa nhiệt xuất hiện khi có một dòng điện rất cao bị cưỡng bức đi qua một điểm nối giữa hai vật liệu dẫn điện. Đánh lửa nhiệt hầu hết xuất hiện gần các mặt bên trong mối nối nếu áp lực mặt tiếp xúc quá nhỏ, điều này chủ yếu là do mật độ dòng cao và áp lực mặt tiếp xúc không tương xứng. Mật độ đánh lửa nhiệt có liên quan đến năng lượng riêng và do đó, giai đoạn quan trọng nhất của sét là cú sét phản hồi ban đầu. Đánh lửa điện xảy ra khi đòng điện bị cưỡng bức dẫn theo các đường dẫn phức tạp, như bên trong mối nối, khi các điện áp cảm ứng trong một vòng ghép như vậy vượt quá điện áp ngắt mạch giữa các bộ phận kim loại. Điện áp cảm ứng tỷ lệ thuận với độ tự cảm nhân với độ dốc của dòng điện sét. Do đó, thành phần sét quan trọng nhất đối với đánh lửa điện là cú sét mang điện âm tiếp theo.
D.5. Thành phần, các vấn đề liên quan và các tham số thử nghiệm hệ thống LPS
D.5.1. Qui định chung
Hệ thống bảo vệ chống sét được làm từ nhiều thành phần khác nhau, mỗi thành phần có chức năng riêng trong hệ thống. Bản chất của các thành phần và những áp lực riêng mà chúng phải chịu, yêu cầu xem xét đặc biệt khi thiết lập các thử nghiệm trong phòng thí nghiệm để kiểm tra tính năng của chúng.
D.5.2. Đầu thu sét
Các hiệu ứng trên các hệ thống đầu thu sét phát sinh từ cả hiệu ứng cơ và nhiệt (như được khảo sát bên dưới trong D.5.3, nhưng lưu ý rằng một tỷ số dòng điện sét cao sẽ dẫn trong phần dẫn điện của đầu thu sét khi bị sét đánh) và cũng có thể, trong một số trường hợp, các hiệu ứng ăn mòn hồ quang, đặc biệt trong các thành phần hệ thống LPS tự nhiên như dây dẫn treo, mái nhà hoặc mặt tường bằng kim loại mỏng (mà có thể tăng nhiệt độ bề mặt phía sau xuyên thủng hoặc vượt quá).
Với hiệu ứng ăn mòn hồ quang, cần xét hai tham số thử nghiệm chính, là điện tích của dòng điện có độ rộng xung dài và độ rộng xung của nó.
Điện tích chi phối đầu vào năng lượng ở nguồn hồ quang. Đặc biệt, các cú sét thời gian dài xuất hiện là nghiêm trọng nhất cho hiệu ứng này trong khi cú sét thời gian ngắn có thể được bỏ qua.
Độ rộng dòng điện xung có một vai trò quan trọng trong hiện tượng truyền nhiệt vào vật liệu. Độ rộng dòng điện xung được áp dụng trong các thử nghiệm cần so sánh với tính chất này của những cú sét thời gian dài (0,5s đến 1s).
D.5.3. Dây dẫn sét
Các hiệu ứng trên dây dẫn sét gây ra do sét có thể được chia thành hai loại chính:
- Hiệu ứng nhiệt do nhiệt điện trở;
- Hiệu ứng cơ học gắn với tương tác từ ở nơi dòng điện sét được chia theo các dây dẫn được đặt ở vùng lân cận của một dây khác hoặc dòng điện đổi hướng (uốn cong hoặc các kết nối giữa các dây dẫn đặt ở vị trí tạo góc nhất định đối với nhau).
Trong hầu hết các trường hợp, hai hiệu ứng này hoạt động độc lập với nhau và các thử nghiệm trong phòng thí nghiệm riêng biệt có thể được thực hiện để kiểm tra từng hiệu ứng so với hiệu ứng khác. Cách tiếp cận này có thể được áp dụng trong mọi trường hợp, trong đó nhiệt lượng được khai triển do dẫn dòng điện sét không thay đổi đáng kể các đặc trưng cơ học.
5.3.1. Phát nóng kiểu điện trở
Các tính toán và phép đo liên quan đến phát nóng dây dẫn có vật liệu và tiết diện khác nhau do dòng điện sét dẫn dọc theo một dây dẫn đã được nhiều tác giả công bố. Những kết quả chính về đồ thị và công thức được tóm tắt trong D.4.1.1. Do đó, không cần thiết có thử nghiệm trong phòng thí nghiệm để kiểm tra tính năng của một dây dẫn đối với tăng nhiệt độ nói chung.
Trong tất cả các trường hợp yêu cầu thử nghiệm trong phòng thí nghiệm, những cân nhắc dưới đây phải được tính đến:
- Các tham số thử nghiệm chính được xét là năng lượng riêng và độ rộng xung dòng điện;
- Năng lượng riêng chi phối độ tăng nhiệt do nhiệt lượng Joule gây ra vì dẫn dòng điện sét. Giá trị số được xét là những số có liên quan đến cú sét đầu tiên. Dữ liệu bảo toàn được thu nhận khi xét đến các cú sét mang điện dương;
- Độ rộng xung dòng điện có ảnh hưởng quyết định đến quá trình trao đổi nhiệt đối với các điều kiện môi trường xung quanh dây dẫn được xét. Trong hầu hết các trường hợp, độ rộng của xung dòng điện quá ngắn nên quá trình gia nhiệt có thể được coi là đoạn nhiệt.
D.5.3.2. Các hiệu ứng cơ học
Như đã được khảo sát trong D.4.2.1, các tương tác cơ học được khai triển giữa các dây dẫn mang dòng điện sét. Lực tác động tỷ lệ thuận với tích dòng điện dẫn trong các dây dẫn (hoặc bình phương dòng điện khi xét một dây dẫn có một điểm uốn) và với nghịch đảo của khoảng cách giữa các dây dẫn.
Tình huống bình thường, trong đó có thể xuất hiện hiệu ứng khả kiến khi một dây dẫn có dạng một vòng ghép hoặc bị bẻ cong. Khi dây như vậy mang dòng điện sét, nó sẽ phải chịu một lực cơ học cố gắng để kéo giãn móc nối và kéo thẳng góc và do đó nó bị uốn cong ra phía ngoài. Độ lớn của lực này là tỷ lệ thuận với bình phương biên độ dòng điện. Tuy nhiên, cần thực hiện phân biệt rõ ràng giữa lực điện động tỷ lệ thuận với bình phương biên độ dòng điện, và ứng suất tương ứng phụ thuộc vào đặc trưng đàn hồi của kết cấu hệ thống LPS cơ học. Với các kết cấu hệ thống LPS có tần số tự nhiên tương đối thấp, ứng suất khai triển trong kết cấu hệ thống LPS sẽ thấp hơn đáng kể so với lực điện động. Trong trường hợp này, không cần thử nghiệm trong phòng thí nghiệm để kiểm tra tính năng cơ học của một dây dẫn uốn cong tạo góc vuông chừng nào tiết diện đáp ứng các yêu cầu tiêu chuẩn hiện có.
Trong tất cả các trường hợp mà yêu cầu thử nghiệm trong phòng thí nghiệm (đặc biệt đối với các vật liệu mềm), những yếu tố sau cần được xem xét. Xét ba tham số của cú sét phản hồi đầu tiên: độ rộng, năng lượng riêng của dòng điện xung, và trong trường hợp các hệ thống cố định là biên độ dòng điện.
Độ rộng dòng điện xung, so với chu kỳ dao động cơ học tự nhiên của kết cấu hệ thống LPS, chi phối loại đáp ứng cơ học của hệ thống về dịch chuyển:
Nếu độ rộng của xung ngắn hơn nhiều so với chu kỳ dao động cơ tự nhiên của kết cấu hệ thống LPS (trường hợp bình thường với kết cấu hệ thống LPS chịu ứng suất từ các xung sét), thì trọng lượng và độ đàn hồi của hệ thống ngăn cản nó bị dịch chuyển đáng kể và lực cơ học tương ứng liên quan thiết yếu đến năng lượng riêng của xung dòng điện. Giá trị đỉnh của dòng điện xung có hiệu ứng hạn chế.
Nếu độ rộng của xung có thể so sánh bằng hoặc cao hơn so với chu kỳ dao động cơ tự nhiên của kết cấu, sự dịch chuyển của hệ thống nhạy cảm hơn với dạng của ứng suất tác dụng. Trong trường hợp này, giá trị đỉnh của dòng điện xung và năng lượng riêng của nó cần phải được tái điều chế trong quá trình thử nghiệm.
Năng lượng riêng của dòng điện xung chi phối ứng suất gây biến dạng đàn hồi và biến dạng dẻo của kết cấu hệ thống LPS. Giá trị số được xem xét là những số liên quan đến cú sét đầu tiên.
Giá trị tối đa của dòng điện xung chi phối chiều dài dịch chuyển tối đa của kết cấu hệ thống LPS, trong trường hợp các hệ thống cố định có tần số dao động tự nhiên cao. Giá trị số được xem xét là những số liên quan đến cú sét đầu tiên.
D.5.3.3. Thành phần kết nối
Thành phần kết nối giữa các dây dẫn lân cận một hệ thống LPS là những điểm có thể bị suy yếu cơ học và nhiệt lượng khi xuất hiện các ứng suất rất cao.
Trong trường hợp một kết nối được đặt theo cách làm cho dây dẫn đi theo một góc vuông, thì những hiệu ứng chính của ứng suất gắn với các lực cơ học có xu hướng nắn thẳng bộ kết nối và lớn hơn lực ma sát giữa thành phần kết nối và các dây dẫn, do đó kéo dãn kết nối. Có thể có xuất hiện hồ quang tại các điểm tiếp xúc các phần khác nhau. Hơn nữa, hiệu ứng nhiệt do độ tập trung dòng điện vượt qua các bề mặt tiếp xúc nhỏ có ảnh hưởng đáng chú ý.
Các thử nghiệm trong phòng thí nghiệm đã chỉ ra rằng rất khó để tách mỗi hiệu ứng từ các thành phần khác khi diễn ra đồng thời phức tạp. Độ bền cơ học bị ảnh hưởng bởi nóng chảy cục bộ tại diện tích tiếp xúc. Các dịch chuyển tương đối giữa các bộ phận của các thành phần kết nối thúc đẩy xuất hiện hồ quang và hậu quả phát sinh nhiệt cực lớn.
Trong trường hợp không có mô hình hợp lệ, các thử nghiệm trong phòng thí nghiệm phải được tiến hành theo cách để biểu diễn càng gần các tham số dòng điện sét thích hợp trong tình huống quan trọng nhất càng tốt, tức là các tham số dòng điện sét thích hợp được áp dụng theo cách thử nghiệm điện riêng.
Trong trường hợp này, cần xét ba tham số: giá trị đỉnh, năng lượng riêng và độ rộng xung dòng điện.
Giá trị dòng điện xung tối đa chi phối lực lớn nhất, hoặc, khi và sau khi lực kéo điện động vượt quá lực ma sát, thì có chiều dài dịch chuyển tối đa của kết cấu LPS. Các giá trị số được xét là những số có liên quan đến cú sét đầu tiên. Dữ liệu bảo toàn thu được bằng cách xét các cú sét mang điện dương.
Năng lượng riêng của xung dòng điện chi phối nhiệt lượng ở các bề mặt tiếp xúc nơi mà dòng điện tập trung trên các diện tích nhỏ. Các giá trị số được xét là những số có liên quan đến cú sét đầu tiên. Dữ liệu bảo toàn thu được bằng cách xét các cú sét mang điện dương.
Độ rộng của dòng điện xung chi phối dịch chuyển tối đa của kết cấu sau khi các lực ma sát bị vượt quá và có một vai trò quan trọng trong hiện tượng truyền nhiệt vào vật liệu.
5.3.4. Đầu tiếp đất
Các vấn đề thực sự với các điện cực tiếp đất được gắn với ăn mòn hóa học và thiệt hại cơ học do các lực khác với lực điện động gây ra. Trong các trường hợp thực tế, ăn mòn của các điện cực tiếp đất tại nguồn hồ quang ít quan trọng. Tuy nhiên, tương phản với các đầu thu sét, nó được xem như một hệ thống LPS điển hình nhiều đầu thu sét. Dòng điện sét sẽ được chia giữa nhiều điện cực nối đất, do đó ít gây ảnh hưởng nghiêm trọng ở nguồn hồ quang. Trong trường hợp này, xét hai tham số thử nghiệm chính:
- Điện tích chi phối đầu vào năng lượng ở nguồn hồ quang. Đặc biệt, đóng góp của cú sét đầu tiên có thể được bỏ qua khi xuất hiện cú sét thời gian dài nghiêm trọng nhất cho thành phần này;
- Độ rộng xung dòng điện có vai trò quan trọng trong hiện tượng truyền nhiệt vào vật liệu. Độ rộng xung dòng điện được áp dụng trong thử nghiệm nên được so sánh với giá trị tương ứng của các cú sét thời gian dài (0,5 s đến 1 s).
D.6. Thiết bị bảo vệ chống đột biến (SPD)
D.6.1. Qui định chung
Các hiệu ứng của điện áp lên một thiết bị SPD do sét phụ thuộc vào loại thiết bị SPD được xét, liên quan cụ thể với sự có mặt hay không của một bộ phóng điện.
D.6.2. Thiết bị SPD có các bộ phóng điện
Các hiệu ứng tại các bộ phóng điện do sét có thể được chia thành hai loại chính:
- Ăn mòn các điện cực bộ phóng điện do đốt nóng, nóng chảy và bay hơi vật chất;
- Ứng suất cơ học do sóng phóng điện của cú sét đánh.
Vô cùng khó để khảo sát riêng những hiệu ứng này khi cả hai được gắn kết với các tham số dòng điện sét chính bằng các mối quan hệ phức tạp.
Đối với các bộ phóng điện, các thử nghiệm trong phòng thí nghiệm được tiến hành theo cách để biểu diễn càng gần càng tốt các tham số dòng điện sét thích hợp trong trường hợp quan trọng nhất, nghĩa là tất cả các tham số thích hợp của dòng điện sét được áp dụng bằng cách chịu áp lực điện riêng.
Trong trường hợp này, xét năm tham số: giá trị đỉnh, điện tích, độ rộng xung, năng lượng riêng và tốc độ tăng của dòng điện xung.
Giá trị dòng đỉnh chi phối mức độ nghiêm trọng của sóng sét đánh. Các giá trị số được xét là những giá trị liên quan đến cú sét đầu tiên. Dữ liệu bảo toàn thu được khi xét các cú sét mang điện dương.
Điện tích chi phối đầu vào năng lượng trong hồ quang. Năng lượng trong hồ quang sẽ nóng lên, tan chảy và có thể làm bay hơi một phần vật liệu điện cực tại các điểm nối của hồ quang. Giá trị số được xét là những số liên quan đến toàn bộ quá trình sét đánh. Tuy nhiên, trong nhiều trường hợp, điện tích của dòng điện độ rộng xung dài có thể được bỏ qua tùy thuộc vào cấu hình của hệ thống cung cấp điện (TN, TT hoặc IT).
Độ rộng của dòng điện xung chi phối hiện tượng truyền nhiệt vào khối lượng của điện cực và dẫn đến lan truyền nóng chảy bề mật.
Năng lượng riêng của xung dòng điện chi phối khả năng tự nén từ của hồ quang và tính chất vật lý của các luồng plasma điện cực xuất hiện tại giao diện giữa các bề mặt điện cực và hồ quang (mà có thể thổi tắt một số lượng đáng kể vật liệu nóng chảy). Giá trị số được xét là số liên quan đến cú sét đầu tiên. Dữ liệu bảo toàn thu được khi xét các cú sét mang điện dương.
CHÚ THÍCH: Đối với các bộ phóng điện được sử dụng trên các hệ thống cung cấp điện, phải xét đến tần số điện năng có thể có kéo theo biên độ dòng điện tạo thành một hệ số áp lực quan trọng.
D.6.3. Thiết bị SPD có điện trở phi tuyến bằng oxit kim loại
Sét tác động tới điện trở phi tuyến oxit kim loại có thể được chia thành hai loại chính: quá tải và phóng điện hồ quang. Mỗi loại được đặc trưng bởi các hình thức hỏng được tạo ra bởi các hiện tượng khác nhau và bị chi phối bởi các tham số khác nhau. Hỏng hóc một thiết bị SPD oxit kim loại được gắn với các đặc trưng yếu nhất của nó và do đó không chắc về sự đồng thời giữa các áp lực nghiêm trọng khác nhau có thể xảy ra. Do đó, chấp nhận việc thực hiện các thử nghiệm riêng để kiểm tra tính năng trong từng điều kiện của chế độ hỏng hóc.
Quá tải là do một lượng năng lượng hấp thu vượt quá khả năng của thiết bị. Năng lượng vượt quá được xét ở đây có liên quan đến chính tác động của sét. Tuy nhiên, đối với các thiết bị SPD được lắp đặt trên các hệ thống cung cấp điện, dòng điện kéo theo được đưa vào thiết bị trong hệ thống điện ngay lập tức sau khi chấm dứt dẫn dòng điện sét cũng có thể đóng một vai trò quan trọng trong những thiệt hại nghiêm trọng của thiết bị SPD. Cuối cùng, một thiết bị SPD có thể bị thiệt hại nghiêm trọng do bất ổn nhiệt dưới điện áp áp dụng liên quan đến hệ số nhiệt độ âm của các đặc tuyến vôn - ampe của điện trở. Để mô phỏng tình trạng quá tải của điện trở phi tuyến oxit kim loại, xét một tham số chính là: điện tích.
Điện tích chi phối đầu vào năng lượng đưa vào khối điện trở oxit kim loại, coi như là một hằng số điện áp tồn dư của khối điện trở oxit kim loại. Giá trị số được xét là số liên quan đến sét.
Phóng điện hồ quang và nứt gẫy do biên độ của các xung dòng điện vượt quá dung lượng của các điện trở. Cơ chế hỏng này thường được chứng minh bằng một phóng điện hồ quang ngoài dọc theo mặt bích, đôi khi xuyên vào khối điện trở gây ra một vết nứt hay lỗ vuông góc với mặt bích. Hỏng hóc gắn chủ yếu với phá vỡ lớp điện môi của mặt bích khối điện trở.
Để mô phỏng hiện tượng sét này, cần xét hai tham số chính: giá trị tối đa và độ rộng dòng điện xung.
Thông qua mức độ đáp ứng điện áp tồn dư, giá trị tối đa của dòng điện xung xác định độ bền điện môi tối đa trên mặt bích điện trở có bị vượt quá. Giá trị số được xét là những số liên quan đến cú sét đầu tiên. Dữ liệu bảo toàn thu được khi xét các cú sét mang điện dương.
Độ rộng dòng điện xung chi phối thời gian đặt áp lực điện môi trên mặt bích điện trở.
D. 7. Tóm tắt các tham số thử nghiệm được áp dụng trong thử nghiệm các thành phần hệ thống LPS
Bảng D.1 tóm tắt những khía cạnh quan trọng nhất của mỗi thành phần hệ thống LPS khi thực hiện chức năng của nó và cung cấp các tham số dòng điện sét được tái điều chế trong các thử nghiệm trong phòng thí nghiệm.
Các giá trị số đưa ra trong Bảng D.1 có liên quan đến các tham số sét quan trọng tại điểm sét đánh.
Các giá trị thử nghiệm phải được tính toán xét tới việc chia dòng mà có thể được biểu diễn bằng các hệ số chia dòng, như đã khảo sát ở Điều D.3.
Do đó, các giá trị số của các tham số được sử dụng trong các thử nghiệm có thể được tính toán trên cơ sở các số liệu đưa trong Bảng D.1, áp dụng các hệ số giảm gắn với chia dòng, như đã biểu diễn theo công thức được nêu ở Điều D.3.
(tham khảo)
CÁC ĐỘT BIẾN DO SÉT TẠI CÁC ĐIỂM LẮP ĐẶT KHÁC NHAU
E.1. Qui định chung
Với kích thước của dây dẫn, các thiết bị SPD và máy móc, phải xác định mối đe dọa do đột biến tại các điểm lắp đặt cụ thể các thành phần này. Đột biến có thể phát sinh từ các dòng điện sét (một phần) và từ các hiệu ứng cảm ứng đi vào các vòng ghép lắp đặt. Mối đe dọa do các đột biến phải nhỏ hơn mức độ chịu đựng của các thành phần được sử dụng (được xác định bằng các thử nghiệm thích hợp khi cần thiết)
E.2. Các đột biến do sét đánh vào kết cấu (nguồn gây thiệt hại S1)
E.2.1. Các đột biến dẫn qua các bộ phận dẫn điện bên ngoài và các đường dây được nối tới kết cấu
Khi được dẫn điện về đất, dòng điện sét được chia giữa các hệ thống đầu thu sét, các bộ phận dẫn điện bên ngoài và các đường dây, trực tiếp hoặc thông qua thiết bị SPD được nối tới chúng.
Nếu lF = ke x I (E.1)
là bộ phận của dòng điện sét liên quan đến mỗi bộ phận hoặc đường dây dẫn điện bên ngoài, thì hệ số chia dòng ke phụ thuộc vào:
- số đường dẫn song song;
- trở kháng nối đất quy ước của chúng đối với các bộ phận chôn ngầm, hoặc trở kháng đất của chúng, khi các bộ phận trên không nối xuống đất, đối với các bộ phận trên không;
- Trở kháng nối đất quy ước của hệ thống đầu tiếp đất.
· đối với lắp đặt ngầm (E.2)
· đối với lắp đặt trên không (E.3)
Ttrong đó:
Z là trở kháng nối đất quy ước của hệ thống tiếp đất;
Z1 là trở kháng nối đất quy ước của các bộ phận bên ngoài hoặc các đường dây chạy
ngầm trong đất (Bảng E.1);
Z2 là trở kháng đất của phân bố nối đất nối đường dây trên không xuống đất. Nếu không xác định được trở kháng đất của điểm nối đất thì có thể sử dụng giá trị Z1 chỉ trên Bảng E.1 (trong đó điện trở suất liên quan đến điểm tiếp đất).
CHÚ THÍCH 1: Giá trị này được ước lượng theo công thức trên là như nhau đối với mỗi điểm tiếp đất. Nếu không phải trường hợp này thì cần sử dụng các công thức phức tạp hơn.
n1 là tổng các bộ phận bên ngoài hoặc các đường dây chôn ngầm;
n2 là tổng các bộ phận bên ngoài hoặc các đường dây trên không;
I là dòng điện sét liên quan đến mức bảo vệ chống sét (LPL) được xét
Giả thiết giá trị ban đầu xấp với một nửa dòng điện sét dẫn trong hệ thống tiếp đất và có Z2 = Z1, thì giá trị ke có thể được đánh giá cho một bộ phận dẫn điện bên ngoài hoặc đường dây theo:
ke = 0,5 / (n1 + n2) (E.4)
Nếu các đường dây vào (như đường điện và viễn thông) đều không có vỏ bảo vệ hoặc không được chia lộ trong ống dẫn kim loại thì mỗi dây dẫn n của đường dây mang một phần dòng điện sét bằng nhau
k'e = ke/ n’ (E.5)
n’ là tổng số các dây dẫn điện
Đối với các đường dây có vỏ bảo vệ được liên kết ở lối vào, các giá trị hệ số chia dòng k’e đối với mỗi dây dẫn n’ của một đường dây có vỏ bảo vệ được đưa ra theo:
k'e = ke x Rs / (n’ X RS + RC) (E.6)
Trong đó:
RS là trở kháng thuần trở trên mỗi đơn vị chiều dài của vỏ bảo vệ;
RC là trở kháng thuần trở trên mỗi đơn vị chiều dài của dây dẫn bên trong.
CHÚ THÍCH 2: Công thức này có thể đánh giá thấp vai trò của vỏ bảo vệ trong việc chuyển hướng dòng điện sét do điện cảm tương hỗ giữa lõi và vỏ.
Bảng E.1 - Các giá trị trở kháng đất quy ước Z và Z1 theo điện trở suất của đất
r |
Z1a |
Trở kháng đất quy ước liên quan đến loại hệ thống LPSb |
||
I |
II |
III |
||
£ 100 |
8 |
4 |
4 |
4 |
200 |
11 |
6 |
6 |
6 |
500 |
16 |
10 |
10 |
10 |
1000 |
22 |
10 |
15 |
20 |
2000 |
28 |
10 |
15 |
40 |
3000 |
35 |
10 |
15 |
60 |
CHÚ THÍCH: Các giá trị được nêu trong bảng này liên quan đến trở kháng đất quy ước của một dây dẫn chôn ngầm trong điều kiện xung (10/350 ms). |
||||
a Các giá trị đề cập đến các bộ phận bên ngoài dài hơn 100 m. Với chiều dài bộ phận bên ngoài nhỏ hơn 100 m trong các điện trở suất đất cao (> 500 Wm) Z1 có thể được tăng gấp đôi. |
||||
b Hệ thống tiếp đất tuân thủ 5.4 của TCVN 9888-3:2013 (IEC 62305 3:2010). |
E.2.2. Các hệ số ảnh hưởng đến chia dòng điện sét trên các đường dây điện
Với các tính toán chi tiết, một số hệ số có thể ảnh hưởng đến biên độ và hình dạng của các đột biến như vậy:
- Chiều dài cáp có thể ảnh hưởng đến các đặc trưng chia dòng và đặc điểm hình dạng do tỷ số L/R;
- Trở kháng khác nhau của dây dẫn điện trung tính và pha có thể ảnh hưởng đến chia dòng giữa các dây dẫn điện;
CHÚ THÍCH 1: Ví dụ, nếu dây trung tính (N) có nhiều điểm nối đất, thì trở kháng của N thấp hơn so với dây dẫn pha L1, L2, L3 và có thể dẫn đến 50 % dòng điện chạy qua dây dẫn N và 50 % còn lại được chia cho 3 dây dẫn pha khác (mỗi dây 17 %). Nếu N, L1, L2, L3 có cùng trở kháng thì mỗi dây dẫn sẽ mang khoảng 25 % dòng điện.
- Trở kháng biến áp khác nhau có thể ảnh hưởng đến chia dòng (hiệu ứng này là không đáng kể, nếu các máy biến áp được bảo vệ bởi thiết bị SPD nối tắt trở kháng của nó);
- Quan hệ giữa các điện trở nối đất quy ước của máy biến áp và các phần ở phía chịu tải có thể ảnh hưởng đến chia dòng (trở kháng biến áp thấp hơn, dòng đột biến cao hơn dòng dẫn vào hệ thống hạ áp)
- Các hộ tiêu thụ song song làm giảm hiệu quả trở kháng của hệ thống điện hạ áp, điều này có thể làm tăng phần dòng điện sét dẫn vào hệ thống này.
CHÚ THÍCH 2: Tham khảo Phụ lục D của TCVN 9888-4:2013 (IEC 62305-4:2010) để biết thêm thông tin.
E.3. Đột biến liên quan đến các đường dây được nối tới kết cấu
E.3.1. Đột biến do sét đánh vào đường dây (nguồn gây thiệt hại S3)
Khi sét đánh trực tiếp vào đường dây nối, cần tính đến việc chia dòng điện sét theo cả hai hướng của đường dây và đánh thủng cách điện.
Việc lựa chọn các giá trị limp có thể dựa trên giá trị cho trong bảng E.2 cho các hệ thống điện hạ áp và bảng E.3 cho các hệ thống viễn thông, trong đó các giá trị ưu tiên của limp liên quan với mức độ bảo vệ sét (LPL).
Bảng E.2 - Quá dòng đột biến dự kiến do sét đánh vào hệ thống điện hạ áp
LPL |
Hệ thống điện hạ áp |
|||
Các sét đánh trực tiếp và gián tiếp tới dịch vụ |
Sét đánh gần kết cấu a |
Sét đánh vào kết cấu a |
||
Nguồn gây thiệt hại S3 (đánh trực tiếp)b |
Nguồn gây thiệt hại S4 (đánh gián tiếp)c |
Nguồn gây thiệt hại S2 (dòng điện cảm ứng) |
Nguồn gây thiệt hại S1 (dòng điện cảm ứng) |
|
III-IV |
5 |
2,5 |
0,1 |
5 |
II |
7,5 |
3,75 |
0,15 |
7,5 |
I |
10 |
5 |
0,2 |
10 |
CHÚ THÍCH: Tất cả các giá trị đều liên quan đến từng dây pha. |
||||
a Tuyến dây dẫn mạch vòng và khoảng cách đến dòng điện cảm ứng sẽ ảnh hưởng đến các giá trị quá dòng đột biến dự kiến. Giá trị trong Bảng E.2 liên quan đến các dây dẫn mạch vòng ngắn mạch không được bảo vệ, có tuyến khác nhau trong các tòa nhà lớn (diện tích mạch vòng cỡ 50 m2, rộng 5 m), cách tường kết cấu 1 m, bên trong kết cấu không được bảo vệ hoặc tòa nhà có LPS (kc = 0,5). Đối với các đặc trưng mạch vòng và kết cấu khác, giá trị này cần được nhân với các hệ số KS1, kS2, KS3 (xem Điều B.4 của TCVN 9888-2:2013 (IEC 62305- 2:2010)). |
Bảng E.3 - Quá dòng đột biến được dự kiến do sét đánh lên các hệ thống viễn thông
|
Các hệ thống viễn thônga |
|||
|
Các sét đánh trực tiếp và gián tiếp tới dịch vụ |
Sét đánh gần kết cấu b |
Sét đánh vào kết cấu b |
|
LPL |
Nguồn gây thiệt hại S3 (đánh trực tiếp)c |
Nguồn gây thiệt hại S4 (đánh gián tiếp)d |
Nguồn gây thiệt hại S2 (dòng điện cảm ứng) |
Nguồn gây thiệt hại S1 (dòng điện cảm ứng) |
|
Dạng dòng điện: 10/350 ms |
Dạng dòng điện: 8/20 ms |
Dạng dòng điện:d 8/20 ms |
Dạng dòng điện:d 8/20 ms |
lll-IV |
1 |
0,035 |
0,1 |
5 |
II |
1,5 |
0,085 |
0,15 |
7,5 |
I |
2 |
0,160 |
0,2 |
10 |
CHÚ THÍCH: Tất cả các giá trị đều liên quan đến từng dây pha |
||||
a Tham khảo khuyến cáo ITU-T K.67[6] để biết thêm thông tin. |
Đối với các đường dây được bảo vệ, các giá trị quá dòng được cho trong Bảng E.2 có thể được giảm đi 0,5 lần.
CHÚ THÍCH: Giả thiết rằng điện trở của vỏ bảo vệ xấp xỉ bằng với điện trở của tất cả các dây pha nối song song.
E.3.2. Các đột biến do sét đánh gần đường dây (nguồn gây thiệt hại S4)
Các đột biến do sét đánh gần đường dây có năng lượng thấp hơn nhiều so với các đột biến do sét đánh vào đường dây (nguồn gây thiệt hại S3).
Quá dòng điện dự kiến, liên quan đến một mức bảo vệ sét cụ thể (LPL) được cho trong Bảng E.2 và Bảng E.3.
Đối với đường dây được bảo vệ, các giá trị quá dòng điện được cho trong Bảng E.2 và Bảng E.3 có thể được giảm đi 0,5 lần.
E.4. Các đột biến do ảnh hưởng của cảm ứng (nguồn gây thiệt hại S1 hoặc S2 )
E.4.1. Qui định chung
Các đột biến do ảnh hưởng cảm ứng của trường từ, phát ra hoặc do sét đánh gần (nguồn S2) hoặc do dòng điện sét dẫn trong hệ thống LPS bên ngoài hoặc màn chắn không gian của vùng LPZ 1 (nguồn S1) có dạng dòng điện điển hình 8/20 ms. Các đột biến như vậy được xét gần tới hoặc tới đầu cuối của máy móc bên trong vùng LPZ 1 và ở ranh giới của LPZ 1/2.
E.4.2. Các đột biến bên trong vùng LPZ 1 không được bảo vệ
Bên trong các vùng không được bảo vệ LPZ 1 (ví dụ chỉ được bảo vệ bằng một hệ thống LPS ngoài theo TCVN 9888-3 (IEC 62305-3) có độ rộng lưới lớn hơn 5m) các đột biến tương đối cao được dự kiến do các hiệu ứng cảm ứng của từ trường không tắt dần.
Quá dòng dự kiến, liên quan đến mức bảo vệ sét cụ thể (LPL) được đưa ra trong Bảng E.2 và E.3.
E.4.3. Các đột biến bên trong các vùng LPZ được bảo vệ
Bên trong vùng LPZ có màn chắn không gian hiệu quả (yêu cầu chiều rộng lưới dưới 5 m theo Phụ lục A của IEC 62305-4:2010), việc phát các đột biến do hiệu ứng cảm ứng từ từ trường bị giảm mạnh. Trong trường hợp như vậy, các đột biến thấp hơn nhiều các giá trị được cho trong E.4.2.
Bên trong vùng LPZ 1, các hiệu ứng cảm ứng thấp hơn do hiệu ứng tắt dần của màn chắn không gian của nó.
Bên trong vùng LPZ 2, các đột biến bị giảm mạnh hơn nữa do hiệu ứng xếp chồng hai màn chắn không gian của vùng LPZ 1 và LPZ 2.
E.5. Thông tin chung liên quan đến các thiết bị SPD
Việc sử dụng các thiết bị SPD phụ thuộc vào khả năng chịu đựng của chúng, với hệ thống điện thì được phân loại trong IEC 61643-1[7] và trong IEC 61643-21[8] đối với hệ thống viễn thông.
Các thiết bị SPD sẽ được sử dụng theo vị trí lắp đặt chúng như sau:
a) Tại lối đường dây đi vào kết cấu (tại ranh giới của vùng LPZ 1, ví dụ tại bảng phân phối chính MB):
· thiết bị SPD được thử nghiệm với limp (dạng dòng điển hình 10/350), ví dụ: thiết bị SPD được thử nghiệm theo cấp I;
· thiết bị SPD được thử nghiệm với In (dạng dòng điển hình 8/20), ví dụ: thiết bị SPD được thử nghiệm theo cấp II.
b ) Gần với máy được bảo vệ (tại ranh giới của vùng LPZ 2 và cao hơn, ví dụ tại bảng phân phối thứ cấp SB, hoặc tại một ổ cắm SA):
· SPD được thử nghiệm với Limp (dạng dòng điển hình 10/350), ví dụ SPD được thử nghiệm theo Cấp I cho các thiết bị SPD công suất);
· SPD được thử nghiệm với ln (dạng dòng điện điển hình 8/20), ví dụ SPD được thử nghiệm theo cấp II;
· SPD được thử nghiệm với một sóng kết hợp (dạng dòng điện điển hình 8/20), ví dụ SPD được thử nghiệm theo cấp III.
THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO
[1] IEC 60664-1:2007, Insulation coordination for equipment within low-voltage systems - Part 1: Principles, requirements and tests (Kết hợp cách điện cho thiết bị trong các hệ thống hạ áp - Phần 1: Nguyên lý, yêu cầu và thử nghiệm)
[2] IEC 61000-4-5, Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-5: Testing and measurement techniques - Surge immunity test (Tương thích điện từ - Phần 4-5: Các kỹ thuật thử nghiệm và đo lường – Thử nghiệm loại trừ đột biến)
[3] BERGER K., ANDERSON R.B., KRÖNINGER H., Parameters of lightning flashes. CIGRE Electra No 41 (1975), p. 23 - 37 (Các tham số của sét)
[4] ANDERSON R.B., ERIKSSON A.J., Lightning parameters for engineering application. CIGRE Electra No 69 (1980), p. 65 - 102 (Các tham số sét cho ứng dụng kỹ thuật)
[5] IEEE working group report, Estimating lightning performance of transmission lines- Analytical models. IEEE Transactions on Power Delivery, Volume 8, n. 3, July 1993 (Tính năng ước tính của sét cho các mô hình phân tích các đường dây truyền tải)
[6] ITU-T Recommendation K.67, Expected surges on telecommunications and signalling networks due to lightning (Các đột biến dự kiến trên các mạng viễn thông và tín hiệu do sét)
[7] IEC 61643-1, Low-voltage surge protective devices - Part 1: Surge protective devices connected to low-voltage power distribution systems - Requirements and tests (Các thiết bị bảo vệ đột biến hạ áp - Phần 1: Các thiết bị bảo vệ đột biến được nối với các hệ thống phân phối điện năng hạ áp - Các yêu cầu và thử nghiệm)
[8] IEC 61643-21 Low-voltage surge protective devices - Part 21: Surge protective devices connected to telecommunications and signalling networks - Performance requirements and testing methods (Các thiết bị bảo vệ đột biến hạ áp – Phần 21: Các thiết bị bảo vệ đột biến được nối tới các mạng viễn thông và tín hiệu - Các phương pháp thử nghiệm và các yêu cầu tính năng).
MỤC LỤC
Lời nói đầu
Lời giới thiệu
1.Phạm vi áp dụng
2.Tài liệu viện dẫn
3.Thuật ngữ và định nghĩa
4.Tham số dòng điện sét
5.Thiệt hại do sét
6.Nhu cầu và luận chứng kinh tế đối với bảo vệ chống sét
7. Biện pháp bảo vệ
8. Tiêu chí cơ bản để bảo vệ các kết cấu
Phụ lục A (tham khảo) - Tham số dòng điện sét
Phụ lục B (tham khảo) - Hàm số theo thời gian cùa dòng điện sét đối với mục đích phân tích
Phụ lục C (tham khảo) - Mô phỏng dòng điện sét cho các mục đích thử nghiệm
Phụ lục D (tham khảo) - Tham số thử nghiệm mô phỏng các ảnh hưởng của sét lên các thành phần LPS
Phụ lục E (tham khảo) - Đột biến do sét tại các điểm lắp đặt khác nhau
Thư mục tài liệu tham khảo
Con số trong ngoặc vuông thể hiện thư mục tài liệu tham khảo
(Nguyễn Thảo Trường trích dẫn nguyên văn từ Văn bản pháp quy TCVN 9888-1:2013 / IEC 62305-1:2010)